Landauer microSTAR® ii 輻射劑量監測系統
照射劑量太大可能會損壞某些部件
對于電路板的制造商和集成商而言，X射線檢查過程中輻射劑量的危險在于高劑量對電路板的物理損傷。 另一個潛在的問題是一些細微且不易察覺的故障，例如位翻轉，程序丟失，泄漏等，而且物理損壞通常肉眼難以察覺。
在X射線檢查過程中監測這些元器件所受輻照劑量，并確保劑量不超過規定閾值才能有效保護關鍵元器件，降低潛在風險。LANDAUER開發的microSTAR® ii劑量監測系統可用于監測電路板所受劑量。
簡單、靈活的PCB輻射劑量測量方法
LANDAUER采用nanoDot®劑量計基于OSL技術，可以獨立驗證PCB在X射線檢查期間的劑量，并確認劑量不超過制造商部件規定的閾值。
可應用于：
X射線無損檢測實驗室
印刷電路板制造等行業
優勢
● 劑量計可以快速安裝在X射線檢查樣品上（無需線纜連接）；
● 劑量計尺寸小巧，易于固定在要監視的元器件上；
● 劑量計可以進行重復分析；
● 劑量計無影像痕跡，nanoDot®在X射線檢查圖像上不可見；
● 數據讀出快速，10秒即可讀取數據；
● 數據保存，可持續追蹤；
● 靈敏響應，保證測量數據的精確；
